Job Description
Als Studierende arbeiten Sie mit Ihren Kolleginnen und Kollegen auf Augenhöhe und schaffen sich ideale Voraussetzungen für Ihre spätere Karriere.
In einem offenen und modernen Umfeld mit zahlreichen Entwicklungs- und Weiterbildungsmöglichkeiten, arbeiten die Mitarbeitenden bei ZEISS in einer Kultur, die von Expertenwissen und Teamgeist geprägt ist. All das wird getragen von der besonderen Eigentümerstruktur und dem langfristigen Ziel der Carl-Zeiss-Stiftung: Wissenschaft und Gesellschaft gemeinsam voranzubringen.
Heute wagen. Morgen begeistern.
Vielfalt ist ein Teil von ZEISS. Wir freuen uns unabhängig von Geschlecht, Nationalität, ethnischer und sozialer Herkunft, Religion, Weltanschauung, Behinderung, Alter sowie sexueller Orientierung und Identität auf Ihre Bewerbung.
Jetzt, in weniger als 10 Minuten bewerben.
In der Entwicklungsabteilung für optische Beschichtungen der Carl Zeiss Jena GmbH werden moderne, effiziente Beschichtungsprozesse für Antireflexschichten, Strahlteiler, Farbfilter und andere optische Funktionen entwickelt. In mehreren aktuellen Entwicklungsprojekten besteht Bedarf an Unterstützung bei Mess- und Programmieraufgaben.
Zu Ihren Aufgaben gehören:
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Defekt- und topographische Charakterisierung von Prismen mittels mikroskopischem Weißlichtinterferometer (WLI)- und Rasterkraftmikroskop (AFM) durchführen
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Umfangreiche Auswertungen, Korrelationen und Bildverarbeitungen der Messergebnisse vornehmen
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Korrelationen von Defekteigenschaften vor und nach Beschichtung der Prismen mit optischen dünnen Schichten untersuchen
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Bachelor-Abschluss in Physik, Materialwissenschaften, Mechatronik oder einem vergleichbaren Studiengang und Sie sind in einem Master-Studium immatrikuliert
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Grundkenntnisse in einem der Bereiche: Herstellung dünner Schichten und Optikfertigung sowie Oberflächencharakterisierung wären ein Vorteil
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Freude an experimenteller Arbeit und am Umgang mit präziser Messtechnik
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Ausgeprägte Team- und Kommunikationsfähigkeiten
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Gute Deutsch- oder Englischkenntnisse